📌 Infineon Technologies AG: SPM challenges of semiconductor failure analysis | FAMT 2021 - скачать с ютуб видео или музыку на рингтон в хорошем качестве

Из-за периодической блокировки нашего сайта РКН сервисами, просим воспользоваться резервным адресом:

Загрузить через dTub.ru Загрузить через ClipSaver.ru

Скачать бесплатно Infineon Technologies AG: SPM challenges of semiconductor failure analysis | FAMT 2021 в качестве 4к (2к / 1080p)

У нас вы можете посмотреть бесплатно Infineon Technologies AG: SPM challenges of semiconductor failure analysis | FAMT 2021 или скачать в максимальном доступном качестве, которое было загружено на ютуб. Для скачивания выберите вариант из формы ниже:

Загрузить музыку / рингтон Infineon Technologies AG: SPM challenges of semiconductor failure analysis | FAMT 2021 в формате MP3:

Роботам не доступно скачивание файлов. Если вы считаете что это ошибочное сообщение - попробуйте зайти на сайт через браузер google chrome или mozilla firefox. Если сообщение не исчезает - напишите о проблеме в обратную связь. Спасибо.

Если кнопки скачивания не загрузились НАЖМИТЕ ЗДЕСЬ или обновите страницу
Если возникают проблемы со скачиванием, пожалуйста напишите в поддержку по адресу внизу страницы.
Спасибо за использование сервиса savevideohd.ru

Infineon Technologies AG: SPM challenges of semiconductor failure analysis | FAMT 2021

International SPM Symposium on Failure Analysis and Material Testing - FAMT 2021 Speaker: Dr. Andreas Altes, Infineon Technologies AG Subject: SPM challenges of semiconductor failure analysis Advancing miniaturization shapes our modern high-tech world. The design complexity of electronic components and the heterogeneity of new materials constantly increase with decreasing device sizes. New-engineered products need to secure a high level of reliability, sustainability, and longevity to meet the international quality standards. Detection and classification of nanometer-sized material defects require characterization methods with a resolution in the nanometer range. This symposium gathers the professionals from the electronic industry to discuss innovative testing methods at nanoscale and tools for physical failure analysis of the future. #Failureanalysis #FAMT #SPM

Comments